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澤攸電鏡兼顧效率與細節的電鏡 在半導體行業，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學領域，能觀察復合材料的界面結構，分析相分布情況；在地質研究中，可識別礦物顆粒的微觀形態，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果，為各領域的研究與生產提供了有力支持。

澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎型掃描電鏡，在材料表面觀察領域有著廣泛的應用。其核心電子光學系統采用高品質磁透鏡，通過多層線圈纏繞技術，形成均勻的磁場分布，為電子束的聚焦提供穩定條件。

樣品處理與制備：ZEM系列臺式電鏡 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術相結合，可提供多維度的樣品信息。

原位實驗方案：ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術相結合，可提供多維度的樣品信息。

納米尺度分析：ZEM系列臺式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺階儀是進行納米尺度表面輪廓和膜厚測量的工具。它與掃描電鏡技術相結合，可提供多維度的樣品信息。

高分辨成像：ZEM系列臺式電鏡介紹 對于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺式掃描電鏡將高性能融入小巧的機身中。該產品減少了用戶對大型設備空間的依賴。