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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

澤攸原位電鏡MEMS系統技術解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統是一套專為透射電子顯微鏡設計的微機電實驗平臺，旨在實現對材料在多種外場激勵下的實時動態觀測。該系統通過精密的微納加工技術，為材料科學研究提供了原位實驗的解決方案。

澤攸原位MEMS：動態電鏡觀測新方案在材料科學、納米技術和生命科學等領域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結構的重要工具。而原位實驗技術的進步，使得研究人員能夠在原子尺度下實時觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場等）下的動態變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機電系統）技術，為這一研究方向提供了新的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。芯片電極聯通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學測試環境。