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澤攸ZP3-4微納探針臺是一款適用于微納器件電學性能測試的精密儀器，主要服務于半導體器件、納米材料和微電子機械系統（MEMS）等領域的研究與測試需求。該系統采用模塊化設計理念，可滿足不同規格樣品的測試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺精密電學測量平臺

澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或者額外的電纜）。

澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研究領域，以及IC設計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產制造領域。

澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺上。

澤攸手動探針臺系統，可定制手動探針臺系統，整套系統包配置有探針臺主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。

澤攸低溫液氮探針臺 LN-4H-06產品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺、進口分子泵組、全旺程真空規、智能溫控儀等組成。