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澤攸電鏡集成化分析的電鏡系統 在半導體行業，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學領域，能觀察復合材料的界面結構，分析相分布情況；在地質研究中，可識別礦物顆粒的微觀形態，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果，為各領域的研究與生產提供了有力支持。

澤攸電鏡兼顧效率與細節的電鏡 在半導體行業，EM2000 可用于芯片表面的缺陷檢測，快速定位劃痕、污染等問題；在材料科學領域，能觀察復合材料的界面結構，分析相分布情況；在地質研究中，可識別礦物顆粒的微觀形態，輔助礦物鑒定。其高效的工作能力與精準的成像效果，為各領域的研究與生產提供了有力支持。

澤攸電鏡微觀世界的清晰窗口 澤攸 電鏡作為一款基礎型掃描電鏡，在材料表面觀察領域有著廣泛的應用。其核心電子光學系統采用高品質磁透鏡，通過多層線圈纏繞技術，形成均勻的磁場分布，為電子束的聚焦提供穩定條件。

澤攸 集成化的臺階測量方案 澤攸臺階儀憑借靈活的配置，可適應多樣化的測量需求。其采用模塊化設計，傳感器與工作臺均可根據樣品特性更換，提升設備的適用范圍。

澤攸深度測量的可靠選擇 澤攸 臺階儀憑借靈活的配置，可適應多樣化的測量需求。其采用模塊化設計，傳感器與工作臺均可根據樣品特性更換，提升設備的適用范圍。

澤攸多場景適配的臺階儀 澤攸 臺階儀在設計上注重擴大測量范圍的同時保持測量精度，其驅動系統采用伺服電機，運行平穩，掃描過程中觸針測力波動小。