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布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及。布魯克Contour X系列以“高適應性、易操作、低維護”為核心設計理念，幫助用戶將微納檢測從專業實驗室延伸至量產產線，為智能制造提供可靠的質量控制手段。

布魯克白光干涉光學輪廓儀形貌測量新維度布魯克Contour X系列白光干涉光學輪廓儀，以光學干涉技術為核心，通過非接觸式測量實現亞納米級表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm，橫向采樣密度達640×480點/次，可在5-20秒內完成單次掃描，兼顧效率與精度。

布魯克白光干涉光學輪廓儀落地式全能選手 ContourX - 1000 采用落地式設計，機身穩固。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學頭，雙光源、自動化的物鏡轉盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤 。這種創新設計為各種復雜應用提供了極大便利，對于有難度的表面和深溝槽結構也能輕松應對。操作界面配備簡潔且有引導性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經驗不足也能快速

布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇 在材料微觀特性探究、元件質量把控的科研及工業場景里，表面輪廓測量的精度與效率，直接影響著研究進展與產品品質。布魯克白光干涉光學輪廓儀，以其精巧設計與實用功能，成為眾多專業人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產品。

Sensofar白光干涉儀：高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。

Sensofar白光干涉儀高分辨表面分析解決方案 Sensofar白光干涉儀采用優良的光學干涉技術，為微納米級表面形貌測量提供可靠解決方案，廣泛應用于半導體、精密制造和材料科學研究領域。