技術亮點與性能突破

布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及。 布魯克Contour X系列突破傳統干涉儀的局限性，采用動態相位鎖定技術與自適應光程補償算法，實現：

• 超寬動態范圍：支持1nm-200μm的垂直測量跨度，無需切換設備即可檢測從原子級平整表面到微米級溝槽結構。

• 智能環境適應：內置溫度漂移補償模塊（精度±0.01℃/h）與氣壓校正功能，確保車間環境下的測量穩定性。

• 多模態分析：集成共聚焦顯微模塊與偏振干涉選項，可同步獲取表面形貌、膜層應力與晶體取向信息。

硬件配置與材料選型

• 光源系統：定制化白光LED陣列（色溫6500K，壽命＞50,000小時），配合可調諧濾波器實現波長范圍400-1000nm連續調節。

• 探測器：1024×1024像素CMOS相機（幀率120fps），支持HDR模式下的高動態范圍成像。

• 運動控制：閉環直線電機驅動XY平臺（重復定位精度±0.1μm），搭配納米級壓電陶瓷Z軸（分辨率0.01nm）。

典型應用案例庫

操作流程簡化設計

1. 一鍵式校準：通過內置標準樣塊（臺階高度100nm±0.5nm）自動完成系統標定，耗時＜2分鐘。

2. 智能路徑規劃：軟件根據樣品尺寸自動生成掃描軌跡，避免重復測量與邊緣效應。

3. 云端數據管理：支持與布魯克LABSUITE平臺無縫對接，實現測量數據實時上傳與多終端共享。

維護與售后服務體系

• 模塊化維護：光學頭、運動平臺等核心部件采用快速插拔設計，現場更換時間＜30分鐘。

• 預防性維護：通過IoT模塊遠程監控設備狀態，提前預警光源衰減、電機磨損等潛在故障。

• 全球服務網絡：在28個國家設立技術中心，提供72小時內響應的現場支持服務。

布魯克Contour X系列以“高適應性、易操作、低維護"為核心設計理念，幫助用戶將微納檢測從專業實驗室延伸至量產產線，為智能制造提供可靠的質量控制手段。布魯克白光干涉光學輪廓儀微納檢測觸手可及