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澤攸：多材質樣品檢測臺階儀 在半導體元件研發、航空航天配件制造、新型材料實驗等場景中，樣品材質多樣（如金屬、陶瓷、薄膜、生物材料），對測量模式的適配性要求更高，單一測量原理的臺階儀難以滿足全場景需求。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借接觸式與光學式雙測量模式、適配多材質的設計，成為這類復雜場景的實用工具，幫助用戶完成不同材質樣品的臺階高度、厚度等檢測任務，減少設備更換頻率。

澤攸：電子元件批量檢測臺階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高?；A實驗教學等場景中，無需復雜功能的臺階儀，更需要操作簡單、成本可控且能滿足基礎測量需求的設備。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡潔設計、穩定的基礎表現，成為這類場景的實用選擇，幫助用戶高效完成臺階高度、薄膜厚度等日常檢測任務。

澤攸：小企業抽檢實用半自動臺階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高校基礎實驗教學等場景中，無需復雜功能的臺階儀，更需要操作簡單、成本可控且能滿足基礎測量需求的設備。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡潔設計、穩定的基礎表現，成為這類場景的實用選擇，幫助用戶高效完成臺階高度、薄膜厚度等日常檢測任務。

澤攸 ZEM20：工業研發顯微表征平臺 制造業的研發環節（如半導體、航空航天、醫療器械），對產品微觀結構的超高分辨率表征與多維度分析是提升產品性能、突破技術瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20，憑借性能與強大的擴展能力，成為工業研發的核心顯微表征平臺。

澤攸 ZEM20：科研顯微研究平臺 在高校重點實驗室、科研機構的研究中，對微觀結構的超高分辨率分析與多維度表征是突破科研瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20，憑借性能與豐富的擴展功能，成為開展前沿微觀研究的高級平臺。

澤攸 ZEM18：科研機構微觀分析利器 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創企業，澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性，成為微觀分析工作的實用工具，助力完成基礎科研與產品研發中的顯微觀察任務。