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SensofarS neox的細節與性能表現 要深入了解Sensofar S neox的特點，需要關注其實現多模式測量的技術細節和由此帶來的性能表現。

Sensofar S neox：多模式測量平臺 Sensofar S neox 3D光學輪廓儀的設計理念是集成與靈活。它并非單一技術儀器，而是一個將共聚焦成像、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI）三種核心技術融于一身的多模式測量平臺.

探索Sensofar光學輪廓技術 Sensofar Metrology作為光學測量領域的參與者，其S neox和LIN系列三維光學輪廓儀集成了多種光學測量技術，包括共聚焦、白光干涉（VSI）和相移干涉（PSI），為微觀表面的三維形貌測量提供了多樣的解決方案。

Sensofar S neox：半導體封裝檢測精密工具 在半導體封裝制造、微型電子元件檢測、射頻器件研發等精密電子領域，對芯片鍵合線、封裝膠體、引腳等微觀結構的 3D 輪廓測量要求嚴苛，Sensofar 新型共聚焦白光干涉輪廓儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與半導體行業適配設計，成為封裝質量把控的實用工具，助力企業提升半導體產品的可靠性與良率。

Sensofar S wide：大尺寸部件 3D 檢測利器 在汽車車身部件制造、航空航天結構件檢測、大尺寸玻璃面板質量控制等領域，傳統小視野輪廓儀難以高效完成全尺寸檢測，Sensofar 大視野 3D 光學輪廓儀 S wide 憑借超大測量視野與快速拼接技術，成為大尺寸樣品 3D 輪廓分析的實用工具，為工業生產中大型部件的質量把控提供高效解決方案。

S neox：納米材料研發 3D 分析助手 在納米材料研發、薄膜技術研究、生物醫用材料設計等科研領域，對材料表面微觀 3D 結構的精準分析是揭示材料性能機制的關鍵，Sensofar 3D 共聚焦白光干涉儀 S neox 憑借高分辨率測量能力與靈活的實驗適配性，成為科研團隊探索納米尺度結構的實用工具，為材料研發提供從形貌觀察到數據量化的全流程支持。