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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。

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ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

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澤攸電鏡ZEM20Ultro:納米技術研發觀測利器 在納米技術研發領域，從納米材料的形貌調控到納米器件的結構優化，都需要對尺寸在 1-100 納米范圍內的微觀結構進行精準表征。傳統觀測手段難以滿足納米級別的分辨率需求，而大型專用設備又受限于操作門檻與空間成本。ZEM20Ultro 臺式場發射掃描電子顯微鏡（以下簡稱 ZEM20Ultro）憑借高分辨率成像能力、靈活的樣品適配性與便捷的操作設計，成為

澤攸電鏡ZEM20Ultro：生命科學研究微觀助手 在材料科學研究領域，從金屬材料的相變機制、復合材料的界面結合，到納米材料的形貌調控，都需要深入微觀層面獲取結構信息。