材料動態行為研究需同時捕捉微觀結構演變與宏觀性能變化，傳統電鏡因成像速度與實驗條件限制，難以滿足這一需求。澤攸ZEM20Pro通過集成原位功能樣品臺與高速成像系統，為科研人員提供了多維度的分析解決方案。

原位實驗平臺：多場景適配

ZEM20Pro可選配以下原位附件：

• 拉伸臺：最大載荷50N，位移分辨率0.1μm，用于金屬疲勞裂紋擴展觀察；

• 加熱臺：溫度范圍室溫-1000℃，升溫速率10℃/s，模擬材料高溫服役環境；

• TEC冷臺：溫度控制-30℃至室溫，凍結液相反應中間態，捕捉石墨烯剝離動態。

原位實驗中，樣品臺與電子光學系統聯動控制，確保在樣品移動或溫度變化過程中，電子束始終聚焦于目標區域。例如，在電池充放電循環實驗中，加熱臺與SE探測器同步工作，實時記錄電極膨脹與表面形貌的耦合變化。

高速成像系統：動態過程可視化

為應對原位實驗中的快速變化，ZEM20Pro優化了掃描線圈與探測器響應速度：

• 快掃模式：512×512像素下掃描時間<3秒，適用于觀察裂紋的瞬間擴展；

• 視頻記錄：艙內攝像頭以30幀/秒捕獲樣品宏觀形變，與電鏡圖像時間軸同步；

• 觸發采集：支持外部信號觸發圖像采集，精準記錄力學加載或電化學刺激后的結構響應。

數據同步與分析：挖掘動態信息

原位實驗數據包含圖像、溫度、載荷等多維度信息，ZEM20Pro軟件通過時間軸關聯功能實現數據整合。例如，在金屬拉伸實驗中，軟件可自動生成應力-應變曲線，并在曲線上標注對應階段的電鏡圖像，直觀展示頸縮形成與晶粒轉動的關聯性。對于長時間實驗（如高溫氧化），軟件支持定時采集與斷點續傳，避免數據丟失。

行業應用實例

• 航空航天材料：在加熱臺上觀察鈦合金在650℃下的氧化層生長速率，結合EDS分析氧元素擴散路徑。

• 柔性電子：通過拉伸臺測試聚酰亞胺基底在10%應變下的導電線路斷裂行為，評估器件可靠性。

• 能源存儲：利用冷臺凍結鋰金屬負極在電解液中的沉積過程，解析枝晶生長的立體結構。

技術優勢總結

ZEM20Pro的原位實驗能力源于三大技術突破：

1. 機械穩定性：金屬框架與獨立真空設計減少振動干擾，確保高速掃描時的圖像清晰度；

2. 熱管理：樣品臺與鏡體分體式溫控，避免加熱/冷卻過程對電子光學系統的影響；

3. 軟件集成：原位控制模塊與圖像處理模塊無縫對接，降低用戶操作復雜度。