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ZEM20掃描電鏡：從科研到產業“橋梁設備” 在高校實驗室與企業研發中心之間，存在一類對設備性能與成本均敏感的用戶群體——他們需要高分辨率成像能力，同時希望設備易于維護、操作門檻低。澤攸科技ZEM20臺式掃描電子顯微鏡憑借“高性價比”與“用戶友好性”，成為連接基礎研究與產業應用的理想選擇。

ZEM20掃描電鏡：原位測試的“全能搭檔” 在材料動態行為研究中，原位測試技術已成為揭示微觀機制的關鍵手段。澤攸科技ZEM20臺式掃描電子顯微鏡通過模塊化設計，兼容拉伸、加熱、冷卻等多類原位附件，為材料力學、熱學及電化學性能研究提供一體化觀測平臺。

ZEM20臺式掃描電鏡：微觀世界的“多面手” 在材料科學、新能源開發及生物醫藥等領域，微觀結構的分析需求日益增長。澤攸科技推出的ZEM20臺式掃描電子顯微鏡（SEM），憑借其緊湊設計、多功能集成與便捷操作，成為實驗室與工業場景中的“微觀觀測工具”。

澤攸：航材精密檢測臺階儀 在航空航天精密配件制造領域，配件材質多樣（如鈦合金、復合材料、陶瓷涂層）且結構復雜（如異形曲面、微小臺階），對檢測設備的多材質適配性與精度穩定性要求更高。澤攸全自動臺階儀 JS3000B 憑借接觸式 + 光學式雙測量模式、高剛性結構與耐用設計，成為航空航天精密配件檢測的實用工具，幫助企業完成配件臺階高度、涂層厚度等關鍵參數檢測，保障飛行安全相關部件的質量。

澤攸：光學鏡片質檢臺階儀 在光學鏡片生產企業的批量質檢環節，需要兼顧檢測效率與數據一致性，手動檢測難以滿足大規模生產需求。澤攸全自動臺階儀 JS2000B 憑借自動化操作、適配光學鏡片的測量設計與批量數據管理功能，成為光學鏡片質檢的實用工具，幫助企業完成鏡片臺階高度、鍍膜厚度等關鍵參數檢測，把控產品質量。

澤攸 ：高校實驗教學臺階儀 在高校材料、電子、機械等專業的基礎實驗教學中，需要兼顧操作安全性、原理直觀性與成本可控性，復雜的檢測設備難以適配教學場景。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡易操作、清晰的原理呈現與耐用設計，成為高校實驗教學的實用工具，幫助學生掌握臺階高度測量基礎方法，理解接觸式測量原理。