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新聞資訊
NEWS INFORMATION在科研與醫學領域，徠卡顯微鏡以其良好的成像質量和多樣化的功能，成為觀察微觀世界的得力助手。而在使用產品進行拍照時，正確設置比例尺是確保圖像數據準確性和可重復性的重要環節。本文將詳細介紹如何在徠卡顯微鏡拍照過程中設置比例尺，以助力科研工作者獲得更加精準的圖像信息。一、了解比例尺的重要性比例尺，或稱標尺，是圖像中用于表示實際尺寸與圖像尺寸之間比例關系的工具。在顯微鏡拍照中，設置正確的比例尺對于后續的數據分析、測量及對比研究至關重要。它確保了圖像中的每一個細節都能被準確地還原到實際...
澤攸探針臺，作為現代科技領域中一項重要的測量和分析工具，其功能和應用遠不止于表面的觀測與檢測。本文將深入探討它的作用及其在各個領域中的廣泛應用。澤攸探針臺是一種精密的科學儀器，其主要功能是通過使用探針來進行表面的掃描和分析。這些探針可以是原子力顯微鏡（AFM）、掃描電子顯微鏡（SEM）等，其核心原理在于利用微小探針在納米尺度上進行表面的測量和成像。這種高分辨率的測量技術使得它在各個學科和工業領域中都有著廣泛的應用。首先，澤攸探針臺在材料科學和納米技術領域中扮演著重要角色。通過...
在材料科學、機械工程以及半導體制造等領域，表面粗糙度是衡量產品質量和性能的重要指標之一。而Sensofar白光干涉儀，憑借其高精度、非接觸式以及實時測量的優勢，成為了測量表面粗糙度的理想選擇。1.高精度測量，洞察微觀世界Sensofar白光干涉儀通過測量物體表面反射光線的相位差，能夠精確計算出表面的粗糙度參數，如均方根粗糙度（RMS）等。其工作原理是將一束白光分成兩束，經過不同路徑后再匯聚形成干涉條紋。這些干涉條紋的間距和形態直接反映了表面的形狀和粗糙度，通過對干涉條紋的精細...
在納米科技日益發展的今天，對微觀世界的探索已成為科研和工業領域的重要任務。澤攸探針臺作為納米科技領域的重要工具，以其高精度、高分辨率和廣泛的適用性，成為了科研人員和企業工程師的得力助手。本文將詳細介紹它的特點、技術規格、應用領域及其重要性。一、概述澤攸探針臺是一款高性能納米探針臺，專為納米科學研究提供良好的儀器支持。該探針臺采用了壓電陶瓷驅動技術，具有分辨率高、尺寸緊湊、行程大、操作簡單等特點，能夠在真空環境下進行各種納米精度運動操作。它的應用范圍廣泛，包括納米材料操縱、納米...
在精密測量領域，技術的不斷革新推動著行業向前發展。Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡憑借其良好的性能和特殊優勢，成為了行業內的先進者。本文將詳細介紹它的使用優勢，并通過具體數據和特點進行闡述。一、技術融合與創新Sensofar白光干涉共聚焦顯微鏡結合了共聚焦和干涉技術，為用戶提供了測量體驗。該技術無需插拔任何硬件，即可在軟件內自動實現共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換，從而使用戶能夠同時享受到共聚焦技術的超高XY向分辨率和干涉技術的亞納米級Z向分辨率及測量重復性的特點。...
UPC獎勵Sensofar的軌跡實現公司獲得了最佳技術型公司或分拆上面的圖片。Terrassa光學和視光學學院院長JoanGispets代表Sensofar接受獎項在著名的UPC（加泰羅尼亞理工大學）2019年研究價值獎的框架內，該獎項認可了大學研究團隊在不同調查模式中的工作，我們公司獲得了該類別的獎項；技術型公司或分拆出來的公司。Sensofar是UPC的第一個衍生產品之一，自成立以來經歷了積極的增長。它與CD6合作森從一開始就與表面計量領域有著悠久傳統的公司競爭（Zygo...
SHARK項目總結和數字演示我們走過了漫長的道路,森發作為財團成員加入了SHARK歐盟項目（由歐盟地平線2020框架計劃的研究和創新資金支持，贈款協議編號768701），目前正接近項目的尾聲。該項目的目的是證明，它可以工業化的激光功能紋理沒有任何特定的添加涂層。在此期間，11個歐洲聯盟合作伙伴（3個研究機構，4個技術提供商和5個市場的終端用戶）共同努力，將我們所有的知識和經驗提供給集團，從而豐富了整個周期中的每個過程。研究機構技術供應商最終用戶在這種情況下，特別是Sensof...
Sensofar與JHTechnologies合作，在美國推動計量工業檢測解決方案JHTechnologies將在美國13個州分銷和支持Sensofar。JHTechnologies，一家的光學和數字成像系統分銷商，最近宣布與先進的表面表征系統制造商Senfaro建立銷售、營銷和服務伙伴關系。這一戰略伙伴關系提供了高分辨率非接觸式三維表面輪廓儀的互補共焦，干涉，變焦，光譜反射計技術。光學輪廓儀已經由Senfar開發用于測量光滑到非常粗糙的表面，并且可以在JHTechnolog...