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Sensofar三維輪廓儀：共聚焦與干涉測量結合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-09-08
產品型號：S neox
瀏覽量：87
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-09-08產品型號：S neox瀏覽量：71
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
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更新時間：2025-09-08產品型號：S neox瀏覽量：82
Sensofar白光干涉儀：高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
更新時間：2025-09-08產品型號：S neox瀏覽量：129