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探索布魯克輪廓儀表面測量應用布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀通過白光干涉技術，為表面測量提供了一種解決方案。其設計兼顧了實驗室和工業場景的需求，可用于多種材料的形貌表征。
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探索布魯克輪廓儀表面測量應用
布魯克ContourX-500三維光學輪廓儀通過白光干涉技術，為表面測量提供了一種解決方案。其設計兼顧了實驗室和工業場景的需求，可用于多種材料的形貌表征。
產品采用模塊化設計，包括照明系統、干涉物鏡、載物臺和檢測單元。照明系統使用長壽命LED光源，波長范圍覆蓋可見光區域。干涉物鏡支持5種可選放大倍率，從2.5倍到50倍，用戶可根據樣品特征靈活選擇。載物臺由不銹鋼和鋁合金構成，帶有真空吸附孔，可固定不規則樣品。檢測單元配備高靈敏度CCD傳感器，捕捉干涉條紋。
性能上，ContourX-500能處理從鏡面到漫反射表面的測量，垂直重復性在標準條件下表現穩定。掃描模式包括單次拍攝和垂直掃描，適用于不同高度變化的樣品。系統噪聲水平較低，有助于提升測量數據的可靠性。
參數表：
型號：ContourX-500
光源類型：LED白光
物鏡倍率：2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X
傳感器分辨率：1024 x 1024像素
最大采樣率：120Hz
工作距離：10mm至45mm（依物鏡而定）
尺寸：450mm x 450mm x 500mm
操作溫度：15°C至30°C
應用方面，該儀器可用于微電子元件的高度測量、光學鏡面的面形分析、材料表面的缺陷檢測，以及生物醫學材料的拓撲結構研究。在質量控制和生產過程中，它能提供表面參數的定量數據。
使用時，先安裝合適的物鏡，放置樣品并調整位置。通過軟件選擇測量區域和掃描參數，校準參考光路后開始采集。數據經軟件處理，可輸出高度圖、截面曲線和統計結果。定期校準和光學清潔有助于保持性能。
ContourX-500的功能設計面向實際測量任務，為用戶提供了一種表面分析工具。
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