技術演進

STM7系列延續了奧林巴斯50年測量顯微鏡研發經驗，其UIS2光學系統較前代產品提升15%的透光率，配合主動反射共聚焦自動聚焦系統，使Z軸測量精度達到0.1μm級。該技術已通過ILAC-MRA認證，滿足ISO 17025實驗室校準要求。

關鍵性能指標

1. 重復性
   在20℃恒溫環境下，STM7-LF型號的XY軸重復測量誤差（10X物鏡），Z軸（50X物鏡），符合半導體行業SEMI標準。

2. 可追溯性
   每臺設備出廠前均經過JCSS認證機構校準，提供包含測量不確定度評估的校準證書。某汽車廠商通過該功能實現全球工廠測量數據互認，減少跨區域質檢爭議。

3. 兼容性
   支持導入DXF/CAD圖紙進行比對測量，例如在檢測航空零件時，可直接將設計圖紙導入軟件，自動計算實際尺寸與理論值的偏差。

型號選擇建議

• 小型電子廠：STM7-SF（50mm載物臺）搭配5×-100×物鏡，滿足SMT貼片元件檢測需求。

• 精密模具廠：STM7-MF（200mm載物臺）配置電動載物臺與自動測量軟件，實現模具型腔批量檢測。

• 半導體晶圓廠：STM7-LF（300mm載物臺）集成花崗巖基座與共聚焦聚焦系統，應對12英寸晶圓檢測挑戰。