相關文章
上一個：
返回列表
服務熱線：
公司地址：
公司郵箱：
服務熱線
17701039158
產品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產品中心三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀布魯克光學輪廓儀臺式粗糙度專家
產品簡介
布魯克光學輪廓儀臺式粗糙度專家對于預算有限但追求高效計量的實驗室與工廠，布魯克ContourX-200提供了兼顧性能與成本的理想選擇。這款光學輪廓儀以模塊化設計與易用性為核心，覆蓋了從薄膜厚度到關鍵尺寸測量的多元需求。
產品分類
布魯克光學輪廓儀臺式粗糙度專家
對于預算有限但追求高效計量的實驗室與工廠，布魯克ContourX-200提供了兼顧性能與成本的理想選擇。這款光學輪廓儀以模塊化設計與易用性為核心，覆蓋了從薄膜厚度到關鍵尺寸測量的多元需求。
產品細節與性能
ContourX-200搭載500萬像素攝像頭與新型電動XY載物臺，支持150mm×150mm樣品掃描與0.38μm橫向分辨率。其創新點在于“通用掃描干涉（USI）模式"——通過自適應信號處理算法，自動優化表面紋理分析參數，使粗糙度測量時間從10分鐘縮短至2分鐘。設備采用集成防震設計，振動隔離效果達98%，確保在普通實驗臺上的穩定運行。
用材與參數
主體框架為高強度工程塑料，重量僅67kg，便于實驗室靈活部署。光學系統配備可調焦物鏡塔臺，支持2.5X至50X放大倍率切換，Z軸測量范圍0.1nm至2mm，臺階高度準確性優于0.75%。軟件方面，VisionXpress™界面提供超過千種定制分析模板，涵蓋ISO 4287、ASME B46.1等標準，用戶可通過拖拽式操作快速生成報告。
用途與使用說明
ContourX-200廣泛應用于醫療設備表面磨損檢測、太陽能電池絨面結構表征及摩擦學研究等領域。操作流程如下：
樣品預處理：清潔表面并噴涂薄層顯影劑（針對低反射率樣品）；
模式選擇：根據表面反射率（0.05%至100%）切換PSI（相移干涉）或VSI（垂直掃描干涉）模式；
數據分析：利用Vision64®的“多區域提取"功能，同步獲取粗糙度、波紋度與形貌誤差數據。
典型案例
某眼科鏡片制造商通過ContourX-200的批量測量功能，實現了每日200片鏡片的非接觸式檢測，將人工目檢導致的漏檢率從5%降至0.2%，同時降低耗材成本40%。
布魯克光學輪廓儀臺式粗糙度專家