BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

產品簡介

BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選
對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構，布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能，成為微觀測量工作的理想工具。

產品型號：ContourX-200

更新時間：2025-08-26

廠商性質：代理商

訪問量：94

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結構光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀

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BEUKER三維光學輪廓儀實驗室實用之選

對于空間有限、預算適中的中小型實驗室或教學機構，布魯克 ContourX-200 三維光學輪廓儀以其小巧身形與實用性能，成為微觀測量工作的理想工具。

產品細節

ContourX-200 采用迷你桌面設計，機身尺寸僅 500mm×380mm×420mm，重量 12kg，可直接放置在普通實驗臺角落，極大節省空間。操作界面為 7 英寸觸控屏，僅保留核心功能按鍵，搭配圖文引導菜單，學生或新手能快速掌握操作。樣品臺為手動調節式，配備刻度標尺，便于直觀判斷樣品移動距離，雖無自動平移功能，但結構簡單可靠，維護成本低。設備光學部件集成度高，鏡頭與光源一體化設計，開箱后連接電源即可使用，無需復雜調試。機身側面設有便攜提手，方便在不同實驗室間移動，滿足多房間教學需求。

產品性能

ContourX-200 采用白光干涉測量技術，能對表面粗糙度 Ra 值 0.01-10μm 的樣品進行有效測量，如塑料樣品的表面紋理、薄金屬片的厚度差。設備測量數據重復性較好，相同條件下多次測量偏差小，適合教學實驗中對比不同樣品特性。測量速度適中，單次小區域（500μm×500μm）掃描時間約 1-2 分鐘，既能完成教學演示，又不會讓實驗過程冗長。此外，支持數據實時顯示，掃描中可動態觀察三維形貌生成，便于教學中講解測量原理。

用材講究

外殼采用輕質高強度工程塑料，具備一定抗摔能力，適合教學環境頻繁移動。光學鏡頭選用高透光率樹脂鏡片，滿足基礎測量需求，且成本更低、不易破碎。樣品臺臺面采用耐磨亞克力材質，表面光滑平整，無需額外夾具，簡化操作步驟。內部電路采用低功耗設計，搭配節能光源，降低耗電量，減少設備發熱。

參數詳情

參數項	具體數值
橫向分辨率	最高可達 0.5μm
縱向分辨率	低至 1nm
縱向測量范圍	1nm-5mm
樣品臺尺寸	100mm×100mm
樣品臺調節方式	手動平移（X/Y 軸）
掃描速度	0.5-5mm/s（可調）
數據接口	USB 2.0
設備重量	12kg
工作溫度	18-28℃
相對濕度	30%-60%（無冷凝）

廣泛用途

在高校教學實驗中，用于材料科學基礎實驗，讓學生學習表面粗糙度測量；在中職機電專業實訓中，幫助學生檢測手工打磨零件的表面質量；在小型科研團隊中，用于新材料初步篩選，如檢測不同配方涂層的厚度均勻性；在中小學科普活動中，觀察樹葉表面、昆蟲翅膀的微觀形貌，激發學生興趣。

使用說明

使用前放置在平穩實驗臺，避免靠近窗戶或空調出風口。連接電源與電腦，安裝配套軟件并完成設備連接。樣品清潔后直接放置在樣品臺中央，通過手動旋鈕移動樣品臺，使測量區域對準鏡頭。選擇 “快速測量" 或 “精細測量" 模式，設置掃描范圍與分辨率，點擊 “對焦" 后啟動測量。測量中避免觸碰設備，結束后導出數據至電腦用于實驗報告。實驗后關閉電源，用干布擦拭樣品臺，鏡頭有灰塵時用專用鏡頭紙輕擦，每學期檢查設備光學部件是否偏移。

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