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產品簡介
Sensofar S Lynx3D表面形貌測量新選擇Sensofar S Lynx 是一款高性能光學3D表面形貌測量儀，結合共聚焦和白光干涉技術，適用于微納米級表面形貌分析。該設備廣泛應用于半導體、精密制造、生物醫學、材料科學等領域，提供高分辨率、高重復性的測量數據。
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Sensofar S Lynx 是一款高性能光學3D表面形貌測量儀，結合共聚焦和白光干涉技術，適用于微納米級表面形貌分析。該設備廣泛應用于半導體、精密制造、生物醫學、材料科學等領域，提供高分辨率、高重復性的測量數據。Sensofar S Lynx3D表面形貌測量新選擇
高精度測量：采用*光學技術，Z軸分辨率可達納米級，橫向分辨率優于亞微米級。
多模式檢測：支持共聚焦、白光干涉和相位干涉模式，適應不同表面特性。
快速掃描：高速掃描模式提升檢測效率，適用于批量樣品分析。
非接觸測量：避免樣品損傷，適用于軟性、脆性或高反光材料。
光學系統：高精度物鏡與穩定光源設計，確保測量穩定性。
機械結構：航空級鋁合金框架，抗振動、耐磨損，保證長期使用精度。
軟件界面：用戶友好型分析軟件，支持3D建模、粗糙度分析、臺階高度測量等功能。
| 參數 | 指標 |
|---|---|
| 測量技術 | 共聚焦/白光干涉 |
| Z軸分辨率 | ≤0.1 nm |
| 橫向分辨率 | ≤0.5 μm |
| 掃描速度 | ≤1 s/測量區域（視模式） |
| 最大樣品高度 | 100 mm |
| 適用環境 | 實驗室/潔凈室 |
S Lynx Standard：基礎款，適用于常規表面測量。
S Lynx Pro：增強版，支持更大樣品尺寸與更高掃描速度。
S Lynx Nano：超高分辨率版，專用于納米級表面分析。
半導體行業：晶圓、光刻膠表面檢測。
精密制造：刀具、模具、光學元件測量。
生物醫學：植入物、生物材料表面分析。
科研機構：材料科學、摩擦學、微納加工研究。
Sensofar S Lynx 憑借高精度、多模式測量和穩定性能，成為工業檢測與科研分析的理想工具。如需了解更多信息，歡迎聯系我們的技術團隊獲取詳細方案。Sensofar S Lynx3D表面形貌測量新選擇