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產品簡介
在現代科研與工業生產中，對于高精度表面測量的需求與日俱增。從微觀尺度的芯片制造，到宏觀領域的機械零部件加工，精確獲取物體表面的輪廓、粗糙度、紋理等信息，是確保產品質量、推動技術創新的關鍵環節。Sensofar 公司推出的 S neox 3D 光學輪廓儀，憑借其前沿的技術、出色的性能以及廣泛的適用性，成為眾多行業進行表面測量分析的得力助手。?Sensofar S neox：3D 光學輪廓測量的選擇
產品分類
四合一技術協同：S neox 集成了共聚焦、白光干涉、主動照明多焦面疊加（AI 焦點變化）以及反射光譜等四種優良的光學測量技術。共聚焦技術利用物鏡共焦平面處的孔徑，阻擋離焦光線進入成像系統，精準捕捉樣品的聚焦平面，通過機械或數字掃描孔徑，能夠獲取清晰的 2D 輪廓和 3D 表面圖像。白光干涉技術則借助干涉儀兩臂（參考臂與樣品臂）反射光的光程差，生成空間干涉條紋，以此精確測量表面高度信息，在測量光滑表面時具有的精度。AI 焦點變化技術通過垂直掃描光學元件或樣品，獲取一系列表面圖像，運用算法確定各幀中的聚焦點，進而構建完整的聚焦圖像，即使在光學光滑表面也能實現可靠的焦點定位。反射光譜技術從另一個維度提供關于樣品表面材質及特性的信息，多種技術相互補充，無論面對何種復雜表面，S neox 都能應對自如。Sensofar S neox：3D 光學輪廓測量的選擇
智能算法與高速相機驅動：搭載全新的智能且算法，配合高性能新型相機，S neox 在數據采集速度上實現了飛躍。數據采集幀率高達 180fps，標準測量采集速度相比前代產品提升了 5 倍之多，使其成為市場上速度面測量系統?？焖俚臄祿杉粌H提高了工作效率，在對動態過程或需要大量測量數據的場景中，更能完整、準確地捕捉表面信息，避免因采集速度慢導致的數據缺失或偏差。白光干涉儀
高精度測量保障：能夠在不同尺度下對各類紋理、結構、粗糙度和波度進行精確測量。無論是納米級別的微觀表面特征，如半導體芯片上的電路線條粗糙度測量，還是毫米級別的宏觀表面輪廓檢測，如精密機械零件的表面平整度評估，S neox 都能提供極其準確的測量結果。其測量精度可滿足科研領域對新材料表面特性研究的嚴苛要求，也能在工業生產中為質量控制提供可靠依據，確保產品符合高精度標準。
寬測量范圍覆蓋：適用于各種高精度表面測量應用場景，從超光滑的光學鏡片表面，到具有復雜紋理的生物組織樣本，或是具有特殊結構的功能性材料表面。例如在光學領域，可對鏡片表面的亞納米級缺陷進行檢測；在生物醫學研究中，能分析細胞表面的微觀結構；在材料研發中，針對具有特殊紋理以增強性能的材料，S neox 能全面測量其表面特征，為材料性能優化提供數據支持。
用戶友好的操作體驗：Sensofar 致力于為客戶提供使用體驗，S neox 的第五代系統在操作便捷性上達到了新高度。即使是初次接觸的用戶，也能通過簡單的一鍵操作輕松掌控系統。軟件模塊經過精心設計，可根據用戶需求進行定制化配置，無論是基礎的表面粗糙度測量，還是復雜的 3D 表面重建分析，都能通過相應的軟件功能快速實現。同時，系統還具備操作員訪問權限控制、測量流程配方設置、與條形碼 / QR 碼讀取器的兼容性以及可定制插件等功能，方便在質量控制環境中實現自動化操作，生成詳細的通過 / 失敗報告，大幅提高工作效率。
廣泛的行業應用：在質量控制方面，S neox 的自動化模塊和靈活易用的界面，使其能夠輕松融入 24/7 不間斷運行的生產環境。無論是電子產品制造中的零部件表面檢測，還是汽車工業中發動機缸體、活塞等關鍵部件的表面質量把控，都能通過預設程序快速、準確地進行測量和評估，及時發現生產過程中的質量問題，降低次品率。在研發領域，科研人員利用 Sensofar 的 “3 合 1" 操作方式，在 Sensoscan 軟件中一鍵切換系統至當前任務的測量技術，為材料科學、生物醫學工程、微納制造等多學科研究提供了強大的表面分析工具。例如在材料相變研究中，實時觀測材料表面在不同溫度、壓力條件下的微觀結構變化；在生物醫學領域，研究細胞在不同培養條件下的表面形態改變，為疾病診斷和治療方案的開發提供基礎數據。