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在現代工業制造、科研實驗和質量控制領域，高精度的表面形貌測量至關重要。無論是半導體、光學元件、精密加工，還是生物醫學和材料科學研究，都需要高分辨率、高重復性的測量手段。西班牙Sensofar公司推出的共聚焦白光干涉儀（Confocal White Light Interferometer）憑借其超高精度、快速測量和多功能性，成為全球表面測量技術的選擇。Sensofar高精度表面測量的革命性工具

Sensofar 白光干涉儀從納米尺度到工業尺度當一塊半導體晶圓上的納米級缺陷可能導致整個芯片失效，當 PCB 板上 0.1 微米的通孔誤差會影響航天器通信系統，當心臟支架表面的粗糙度直接關系到患者生命安全 —— 精密制造領域的每一個維度都在呼喚更精準、更高效的測量技術。來自西班牙的 Sensofar 集團，以其革命性的共聚焦白光干涉測量技術，正在重新定義*計量工具的標準。

Sensofar白光干涉：不受反光材料的影響，Sensofar 表面輪廓儀 S neox的光學干涉技術Sensofar 白光干涉S neox儀高數值孔徑物鏡 的一大核心亮點。在其傳感器頭中，巧妙集成了干涉、共聚焦、Ai 多焦面疊加和膜厚測量等多種*測量技術。只需輕松點擊一次，系統便能依據當前測量任務的具體需求，自動智能地切換到較為適配的優良技術。

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